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韩国Micro Pioneer X射线镀层测厚仪/膜厚仪

  • 型   号:XRF 2000
  • 价   格:

1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。 2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。 3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测

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韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪

产品介绍
萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  
XRF-2000 系列分为以下三种:  
1. H-Type :
密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  
2. L-Type : 
密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  
3. PCB-Type : 
开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测    
应用 : 
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )   
行业 : 
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。   
特色 :
  
非破坏,非接触式检测分析,快速精準。 
  
可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。 
  
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告  
  
全系列独特设计样品与光径自动对準系统。 
  
标準配备溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。  
  
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差   
  
独特2D3D或任意位置表面量测分析。 
  
雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告  
光学2 0X 影像放大功能,更能精确对位。  
单位选择: mils  uin  mm  um  
  
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的zui佳优势。  
  
仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。 
  
测试方法符合 ISO 3497  ASTM B568  DIN 50987 
 
韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号
Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪
是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,
其物点为:高分辨率,固态探测器; 可分析超薄样品
分析有害物质,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;
可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;
电镀溶液分析;
定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;
贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);
自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;
性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)                              
可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm                      

 

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李瑞躯

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