德国ROENALYTIC（宏德）NanoMaster X射线镀层测厚仪
- 型 号：NanoMaster
- 价 格：
NanoMaster X射线分析仪具有高灵敏度微量分析。可分析微小部件和夹杂物。真空条件进行现场分析测量，允许从Na-U所有元素含量检测。
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德国ROENALYTIC（宏德roentgenanalytik） NanoMasterμXRF镀层厚度和元素分析仪
NanoMasterμXRF荧光分析/镀层测厚/元素分析/ROHS / WEEE分析仪
NanoMaster X射线分析仪具有高灵敏度微量分析。可分析微小部件和夹杂物。真空条件进行现场分析测量，允许从Na-U所有元素含量检测。
现代电子设备小型化导致越来越小的元件，特别是在接触点。关于成本和环保等原因的基础上正变得越来越薄镀涂层，下降到纳米范围内。这会产生测量不能用常规涂层厚度分析仪解决的任务。新的NanoMaster提供了解决方案。此外，NanoMaster使材料具有较高的检测精度和体重极限分析。此外，测量符合WEEE和R0HS可以执行的指导方针。
NanoMaster的突出特点是：
•带电子冷却硅漂移探测器（SDD）
•HiSpe数字脉冲处理光谱仪
•形成了各种方案X射线束
•提供光束直径下降到25微米
•真空样品室增强的元素范围，Na-U
•XMaster用户友好的操作软件
•通用的生产，进货检验和实验室环境
•优异的价格/性能比。
规格参数：
高压电源:25-50KV，1.2mA
X光管：可选光点85*85um微焦管或带薄玻离窗钨（W）靶管或带Be窗铑钯管或带Be窗钼钯管。
准直器：四个组合，软件控制，0.2mm, 0.4mm, 0.6mm, 0.8mm
样品台：全自动（ X 100mm，Ÿ120mm，Z 100mm）,软件控制,步宽1.5um,精度<5um
样品定位： 操纵杆，自动选位，激光自动对焦（需配合自动样品台）
X-Ray探测器：硅漂移探测器（SDD），25mm²有效面积，133eV分辨率或 Peltier-cooled Si-semiconductor探测器（PIN-Diode），25mm²有效面积,500um厚，Be入射窗，260ev分辨率（FWHM@5,9 keV）
样品室（测试箱）：真空室，330mm,D350mm
放大倍数： 彩色视频显微镜，放大60-120 X / 90-180X倍
外型尺寸： H560 cm，W780 cm，D455 cm
主电源： 110V/ 230V， 60HZ / 50HZ
X - MasteR： 操作系统 WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR： 测量模式：单层、双层、三层、四层、合金层，可测元素范围：Ti-U
Fun-MasteR：基本参数法（FP）校对模组，可实现标准片校对模式及无标准片校对模式
Element-MasterR：定性分析模组，一次zui多可分析20种元素（针对合金材料）
%-MasteR：定量分析模组，一次zui多可分析20种元素（针对合金材料）
Liquid-MasteR：电镀药液分析模组（针对药液主成份金属离子浓度）
Data-MasteR：资料统计模组，zui小值、zui大值、平均值、误差，统计图表CP、CPK等
Report-MasteR：报告编辑模组，文本格式，Word格式
多元合金或贵金属成色分析：K金、纯金、纯银、饰银、铜材、钢材等
多层电镀厚度分析：Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn等
自动计算可测厚度范围
无论是很大的汽车部件、卫浴器具、PCB，还是很小的半导体支架、接插端子、金银首饰，德国ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的仪器去进行测量。德国ROENALYTIC宏德提供的都是高效率、低成本的测量仪器，它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析，简单易用，维修方便，是节省生产成本及保证品质的好帮手。
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