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德国ROENALYTIC(宏德)NanoMaster X射线镀层测厚仪

  • 型   号:NanoMaster
  • 价   格:

NanoMaster X射线分析仪具有高灵敏度微量分析。可分析微小部件和夹杂物。真空条件进行现场分析测量,允许从Na-U所有元素含量检测。

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德国ROENALYTIC(宏德roentgenanalytik) NanoMasterμXRF镀层厚度和元素分析仪
NanoMasterμXRF荧光分析/镀层测厚/元素分析/ROHS / WEEE分析仪
 
全新的μXRF集镀层,元材料和ROHS / WEEE于一体的的分析仪器。
 
NanoMaster X射线分析仪具有高灵敏度微量分析。可分析微小部件和夹杂物。真空条件进行现场分析测量,允许从Na-U所有元素含量检测。
 
现代电子设备小型化导致越来越小的元件,特别是在接触点。关于成本和环保等原因的基础上正变得越来越薄镀涂层,下降到纳米范围内。这会产生测量不能用常规涂层厚度分析仪解决的任务。新的NanoMaster提供了解决方案。此外,NanoMaster使材料具有较高的检测精度和体重极限分析。此外,测量符合WEEER0HS可以执行的指导方针。

NanoMaster的突出特点是:
•带电子冷却硅漂移探测器(SDD
HiSpe数字脉冲处理光谱仪
•形成了各种方案X射线束
•提供光束直径下降到25微米
•真空样品室增强的元素范围,Na-U
XMaster用户友好的操作软件
•通用的生产,进货检验和实验室环境
•优异的价格/性能比。

规格参数:
高压电源:25-50KV1.2mA
X光管:可选光点85*85um微焦管带薄玻离窗钨(W)靶管Be窗铑钯管或Be窗钼钯管。
准直器:四个组合,软件控制,0.2mm, 0.4mm, 0.6mm, 0.8mm
样品台全自动X 100mmŸ120mmZ 100mm),软件控制,步宽1.5um,精度<5um
样品定位 操纵杆,自动选位,激光自动对焦需配合自动样品台)  
X-Ray探测器:硅漂移探测器(SDD)25mm²有效面积,133eV分辨率 Peltier-cooled Si-semiconductor探测器(PIN-Diode)25mm²有效面积,500um厚,Be入射窗,260ev分辨率(FWHM@5,9 keV
样品室测试箱:真空室,330mm,D350mm
放大倍数: 彩色视频显微镜,放大60-120 X / 90-180X
外型尺寸: H560 cmW780 cmD455 cm
主电源: 110V/ 230V 60HZ / 50HZ
X - MasteR
 操作系统 WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR
 测量模式:单层、双层、三层、四层、合金层,可测元素范围:Ti-U  
Fun-MasteR
:基本参数法(FP)校对模组,可实现标准片校对模式及无标准片校对模式 
Element-MasterR
:定性分析模组,一次zui多可分析20种元素针对合金材料) 
%-MasteR
:定量分析模组,一次zui多可分析20种元素针对合金材料)   
Liquid-MasteR
:电镀药液分析模组针对药液主成份金属离子浓度)  
Data-MasteR
:资料统计模组,zui小值、zui大值、平均值、误差,统计图表CPCPK 
Report-MasteR
:报告编辑模组,文本格式,Word格式
 
多元合金或贵金属成色分析:K金、纯金、纯银、饰银、铜材、钢材等
多层电镀厚度分析:Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn
自动计算可测厚度范围
 
无论是很大的汽车部件、卫浴器具、PCB,还是很小的半导体支架、接插端子、金银首饰,德国ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的仪器去进行测量。德国ROENALYTIC宏德提供的都是高效率、低成本的测量仪器,它广泛应用于各类电镀工件的镀层测厚及贵重首饰的成色分析,简单易用,维修方便,绝对是节省生产成本及保证品质的好帮手。
 
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