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美国Solar System SMX-FPV膜厚仪

  • 型   号:SMX-FPV
  • 价   格:

美国Solar System SMX-FPV膜厚仪
元素分析仪
带控制台x射线荧光光谱薄膜成分、薄膜厚度测量系统
X射线荧光光谱薄膜成分、薄膜厚度测量系统

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带控制台x射线荧光光谱薄膜成分、薄膜厚度测量系统

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膜厚仪,美国 Solar SMX-FPV系统,元素分析仪,荧光分析仪,荧光光谱仪

System SMX-FPV platform enables PV manufacturers to measure large rigid substrates (such as full glass solar PV panels) as well as reel-to-reel foil output from coil coating machines.

光伏板制造商使用SMX-FPV系统台可以测量大的坚硬的基板(如整块玻璃太阳能光电板)和卷绕镀膜机生产的卷膜。
The SMX-FPV x-ray head can be precisely maneuvered in three axes, enabling detailed analysis of specific substrates at multiple locations, making SMX-FPV an ideal solution for offline sampling of in-process or finished product.

SMX_FPV系统的X射线头全自动化移动,空间精确定位。多点详细测量分析特殊基材,以上性能使SMX-FPV系统在中间产品和成品的离线抽样检测方面表现优秀。


GENERAL SPECIFICATIONS (Subject to change)

一般的特性(如有变更,另通知) 

Dimensions/ 尺寸
 H 72”(183cm) W 65”(165cm) D 92”(234cm) /高183厘米、宽165厘米、长234厘米
 
 Weight/重量
 500 lb (225 kg)/225千克
 
 X-Ray Generation/ X射线源
 Microfocus Be window x-ray tube, 50W/微聚焦、铍窗x射线管,功率:50瓦  
 Available 75W generation column/75瓦发生柱
 
 Collimation/准直器
 Up to five (5) primary filters/多至五个*滤波器 
 Motorized Collimator Palette/准直器电机驱动 
 Available circular or rectangular collimators/圆形或矩形准直器
 
 X-Ray Detection/ 检测器
 Silicon PIN Detector/硅PIN检测器 
 Available Silicon Drift Detector (SDD)/硅漂移检测器 
 Digital Signal Pulse Processing/数字信号脉冲处理
 
 Sample Positioning/ 样品定位
 Automatic Crash Protection /自动防撞保护 
 LED Sample Lighting /LED样品灯 
 Contrast Auto-Focus; Laser Triangulation Focus (with camera-based systems)/对比自动聚焦;激光三点对焦(基于摄像头系统)
 
 Stage/X-Ray Head  Positioning /台/测量头定位
 Motorized XYZ x-ray head positioning system, 26”x50”x6” (66x127x15cm) range /XYZ电机驱动X射线头定位系统(66x127x15厘米)
 
 Options/选件
 SDD Detection Column Upgrade Package; Thermal Shield Protection Package/绝热保护盒
 
 Software/软件
 Mira XRF Software platform with FP Analysis, Data Transfer Protocol, Ethernet/Mira XRF软件,具备FP分析、数据传输协议、以太网功能。

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