韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上的。强度的衰减将主要是由于材料对样品的吸收，以及从样品中反射的第二X射线的强度。测量了涂层等金属膜的厚度。因为有样品和X射线辐照对样品无接触只有45-75w，所以不会造成样品损伤。同时，测量也可以在10到几分钟内完成。

　　韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪的磁感应测量原理：

　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。