美国SCS离子污染测试仪是一种用于检测电子元器件表面及其它高纯度物质中的离子污染程度的专用设备。该仪器可以通过检测样品表面吸附的离子量来判断样品的离子污染程度，常被广泛应用于半导体、电子、医疗器械等领域。
离子污染测试仪的工作原理是利用离子阱技术对空气中的离子进行分离和收集，并对收集到的离子数目进行计数。在测试时，将样品放入仪器中与其它标准样品一同暴露在空气中，经过一段时间后，将样品表面的吸附离子收集，然后将其注入离子阱中进行计数和分析。
美国SCS离子污染测试仪的具体测试技巧：
将被测PCB浸入到再生后的萃取液中，在环境温度为18～25℃，萃取液工作温度为40±2℃，情况下，通过仪器加热、搅拌、测试来进行离子污染程度的测试。测试分为搅拌和再生两个过程。再生过程保证萃取液初始状态为“清洁”，使萃取液电阻率达到测试条件（66MΩ-cm或50MΩ-cm），主要由离子交换柱完成。搅拌的目的是将印制板表面离子*萃取到萃取液中，使萃取液电导率达到一个稳定的状态，由水箱回水口回水时冲击搅拌。
在测试的开始时，系统的检测器和记录器会根据测试槽内初的离子含量建立一个基准数据，然后计算在测试的过程中增加的离子量，当所有的离子溶解入测试液中时，就可达到一个平衡的数值。在测试通孔的板时，这些操作大约需要5-10分钟，测试SMD的板时，大约需要30-45分钟。
测试结束后，后的离子含量水平，会编成一份微观图，包括NaCl/sq.inch、测试的参数以及根据设定的标准是否合格情况，在进行下一次测试之前，通过仪器内的除离子系统清洁测试液，从而达到再生的功能，并且建立新的基准水平。
