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离子污染测试仪的测试方法是如何的?你知道吗?
发布时间:2020-07-23   点击次数:164次
   离子污染测试仪是一个标准模块化、低成本仪器设计用于离子污染检测和其相关的过程控制。其通过运行于PC的PowerView2003专用软件控制, 模块使用异丙醇/D.I水作为萃取介质,采用动态测量方法对产品进行快速无损的测试。
  离子污染测试仪通过将被测线路板浸入IPA/去离子水混合的测试溶液,萃取其上的离子,通过传感器收集后显示为实时曲线和对应的专用离子污染专用单位(ug Eq Nacl/cm2等同于微克氯化钠每平方厘米),对应相应标准即可判断离子浓度是否符合要求。
  离子污染测试仪的具体测试方法:
  将被测PCB 浸入到再生后的萃取液中,在环境温度为18~25℃,萃取液工作温度为40±2℃,情况下,通过仪器加热、搅拌、测试来进行离子污染程度的测试。测试分为搅拌和再生两个过程。再生过程保证萃取液初始状态为“清洁”,使萃取液电阻率达到测试条件(66MΩ-cm 或50MΩ-cm),主要由离子交换柱完成。搅拌的目的是将印制板表面离子完全萃取到萃取液中,使萃取液电导率达到一个稳定的状态,由水箱回水口回水时冲击搅拌。
  在测试的开始时,系统的检测器和记录器会根据测试槽内初的离子含量建立一个基准数据,然后计算在测试的过程中增加的离子量,当所有的离子溶解入测试液中时,就可达到一个平衡的数值。在测试通孔的板时,这些操作大约需要5-10分钟,测试SMD的板时,大约需要30-45分钟。
  测试结束后,后的离子含量水平,会编成一份微观图,包括NaCl/sq.inch 、测试的参数以及根据设定的标准是否合格情况,在进行下一次测试之前,通过仪器内的除离子系统清洁测试液,从而达到再生的功能,并且建立新的基准水平。

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