韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪原理及产品特性，你且看好了!
更新时间：2019-07-15 点击次数：1292次
随着科技的进步，尤其是近几年微机技术的引进，
韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪的采用正朝着微型化、智能化、多功能、高精度、实用化方向发展。测量分辨率达0.1微米，精密度可达1%，并有较大提高。应用范围广，操作方便，价格低廉。是工业和科研中应用的测厚仪。
韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上的。强度的衰减将主要是由于材料对样品的吸收，以及从样品中反射的第二X射线的强度。测量了涂层等金属膜的厚度。因为有样品和X射线辐照对样品无接触只有45-75w，所以不会造成样品损伤。同时，测量也可以在10到几分钟内完成。
韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪的工作原理：
韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法(算法有FP法和经验系数法)得到一个接近实际对应关系的曲线。
韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪的特性：
1、一次可同时分析24个元素。
2、任意多个可选择的分析和识别模型。
3、相互独立的基体效应校正模型。
4、多变量非线性回收程序。
5、专业贵金属检测、镀层厚度检测。
6、针对不同样品可自动切换准直器。
7、智能贵金属检测软件，与仪器硬件相得益彰。
8、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。
