韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。使用韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪的主要测量方法有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
韩国Micro PioneerX射线镀层测厚仪的主要特点：
1.采用小功率端窗一体化微型光管，功耗小、激发效率高，结合使用大面积铍窗电致冷Si-PIN探测器，使该手持式仪器具有与台式机相近的地质矿样测试性能。
2.体积小、便携，方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。
3.采用高分辨率（640*480）PDA作主机，结合无线蓝牙通讯的微型多道分析器技术，仪器使用方便灵活，在任何环境中，测试数据都尽在掌中。
4.仪器既可手持进行快速测试，也能使用座立式对样品进行较长时间的精细测试。
5.考古检测X荧光光谱仪防水防尘，可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度军工用品设计，有良好的防潮防震防压三防功能。
6.专业软件，针对地质矿样元素检测的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、操作简易，对操作人员限制很小的特点。
7.矿样类别的快速识别，多元素自动定性定量分析以及多种矿样模式选择和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
8.一块电池可使用4小时，三块原装电池装配，可选配太阳能充电器或车载式充电器，保证随时随地进行测试。
